SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪
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SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪简介:
1.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
2.同屏显示统计数据
3.可存储前200测值
4.可测铁基体上涂镀层和有色金属
5.基体上涂层,量程1500μm
6.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
7.有红外可接PC及打印机
SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪技术参数:
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